询价
- 企业类型：制造商
- 新旧程度：全新
- 原产地：江苏省苏州昆山市中华园西路1888号
- X\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\/Y\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
- SDD探测器：分辨率低至135eV
- 样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头
- 同时检测元素：最多24个元素，多达五层镀层
- 检出限：可达2ppm，最薄可测试0.005μm
- 镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）重复性：可达0.1%
- SDD探测器：分辨率低至135eV
- 准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与 Ф0.3mm四种准直器组合
产品介绍
X荧光射线膜厚分析仪（thick8000）是一款金属镀层测厚仪器，主要用于五金类，端子，连接器，卫浴，电子元器件，高压开关，半导体支架等产品镀层厚度测试，主要测试镀镍、镀金、镀银、镀铜、镀铑、镀钯、镀钨、镀锌层等电镀层厚度，多可以测五层，满足客户多镀层的检测。
性能优势
1.精密的三维移动平台
2.卓越的样品观测系统
3.先进的图像识别
4.X荧光射线膜厚分析仪轻松实现深槽样品的检测
5.四种微孔聚焦准直器，自动切换
6.双重保护措施，实现无缝防撞
7.采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试
全自动智能控制方式，一键式操作!
开机自动自检、复位；
开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样；
关盖推进样品台，下降Z轴测试平台并自动完成对焦；
直接点击全景或局部景图像选取测试点；
点击软件界面测试按钮，自动完成测试并显示结果。
技术指标
分析元素范围：硫（S）～铀（U）
同时检测元素：多24个元素，多达5层镀层
X荧光射线膜厚分析仪
镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）
SDD探测器：分辨率低至135eV
X荧光射线膜厚分析仪先进的微孔准直技术：小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm
样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
X荧光射线膜厚分析仪样品台尺寸：393（W）x 258 （D）mm
X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位：小于0.1um
操作环境湿度：≤90%
操作环境温度：15℃～30℃
厂家介绍
江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业，注册资本23088万。旗下拥有北京邦鑫伟业技术开发有限公司和深圳市天瑞仪器有限公司两家全资子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。
天瑞仪器将以“行业技术”的姿态，不断探究世界分析领域的。为客户提供更加先进的产品和更加满意的服务，同时为电子、电器、珠宝、玩具、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、医药等众多行业提供更为完善的行业整体解决方案，从而推动中国经济快速化。
