询价
- 企业类型：制造商
- 新旧程度：全新
- 原产地：江苏省苏州昆山市中华园西路1888号
- X\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\/Y\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
- SDD探测器：分辨率低至135eV
- 样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头
- 同时检测元素：最多24个元素，多达五层镀层
- 检出限：可达2ppm，最薄可测试0.005μm
- 镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）重复性：可达0.1%
- SDD探测器：分辨率低至135eV
- 准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与 Ф0.3mm四种准直器组合
【x射线荧光测厚仪生产厂家】产品介绍
Thick 8000 x射线荧光测厚仪（国产）是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型高端仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测,广泛应用于电子电器、五金工具、开关、等企业，天瑞仪器是X射线荧光测厚仪生产厂家，分析仪器上市企业，产品质量和售后服务一流。
【x射线荧光测厚仪生产厂家】性能优势
采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试
全自动智能控制方式，一键式操作!
开机自动退出自检、复位 精密的三维移动平台
卓越的样品观测系统
先进的图像识别
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器，自动切换
双重保护措施，实现无缝防撞
开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样
关盖推进样品台，下降Z轴测试平台并自动完成对焦
直接点击全景或局部景图像选取测试点
点击软件界面测试按钮，自动完成测试并显示测试结果
【x射线荧光测厚仪生产厂家】技术指标
分析元素范围：从硫（S）到铀（U）
同时检测元素：多24个元素，多达五层镀层
检出限：可达2ppm，薄可测试0.005μm
分析含量：一般为2ppm到99.9% 稳定性：可达0.1%
SDD探测器：分辨率低至135eV
镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）重复性：可达0.1%
采用先进的微孔准直技术，小孔径达0.1mm，小光斑达0.1mm
样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与
Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
样品台尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位 ：小于0.1um
操作环境湿度：≤90%
操作环境温度 15℃～30℃
【x射线荧光测厚仪生产厂家】测试实例
在保证计数率的情况下能有效分辨相近元素，大大提高测试稳定性、降低检测限。
结果（Au-Cu)的稳定性数据对比如下：
次数 | Thick8000 | 行业内其他仪器 |
1 | 0.042 | 0.0481 |
2 | 0.043 | 0.0459 |
3 | 0.043 | 0.0461 |
4 | 0.0412 | 0.0432 |
5 | 0.0429 | 0.0458 |
6 | 0.0436 | 0.0458 |
7 | 0.0427 | 0.0483 |
8 | 0.0425 | 0.045 |
9 | 0.0416 | 0.0455 |
10 | 0.0432 | 0.0485 |
11 | 0.0422 | 0.043 |
平均值 | 0.0425 | 0.0459 |
标准偏差 | 0.0007 | 0.0019 |
相对标准偏差 | 1.70% | 4.03% |
