询价
- 可测元素：Ti～U
- 样品观察：CCD摄像头
- 标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
- 检测器：正比计数管
- 测定软件：薄膜FP法、检量线法
- 移动高度：Z轴程控移动高度 20mm
- X射线管：管电压50KV，管电流1mA
- 测试系统：X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统
- X\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\/Y\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
- SDD探测器：分辨率低至135eV
- 样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头
- 同时检测元素：最多24个元素，多达五层镀层
- 检出限：可达2ppm，最薄可测试0.005μm
- 镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）重复性：可达0.1%
- SDD探测器：分辨率低至135eV
- 准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与 Ф0.3mm四种准直器组合
产品介绍
xrf合金材质分析仪是一款无损、快速、准确分析合金材质成份及牌号的仪器，根据其使用场合不同大致可以分为便携式xrf合金材质分析仪和台式xrf合金材质分析仪，便携式主要应用于企业来料检测，严格控制材料品质，避免造成加工后客户退货；同时在大的企业仓库容易出现合金的混料，便携式xrf合金材质分析仪能快速分拣出来，避免不必要的损失，台式xrf合金材质分析仪主要应用于实验室中，相对于便携式的仪器来说，台式的合金材质分析仪更稳定，测试更高。
性能指标
便携式
检测元素：可同时分析40个元素
性：合金专用版分析软件，采用智能一键测试
检测对象：固体、液体、粉末
探测器：SDD探测器及Fast-SDD探测器（可选）
探测器分辨率：到128eV
激发源：50KV/200uA-银靶端窗一体化微型X光管及高压电源
操作环境湿度：≤90%
操作环境温度：-20℃～+50℃
仪器外形尺寸：244mm（长）x 90mm（宽）x 330mm（高）
超低的检出限使便携式xrf合金材质分析仪的性能媲美台式机；仪器体积小，重量轻，可随身携带进行测量，适用于各类型合金样品的分析。
可准确检测各种贵金属合金、高低合金钢、不锈钢、工具钢、铬/钼钢、镍合金、钴合金、镍/钴耐热合金、钛合金、铜合金、青铜、锌合金、钨合金等，无损检测，1秒钟即可知晓材料的成份及合号（304、316、201等）。还可对铝、镁轻合号进行快速鉴定，并可对材料进行可靠性鉴别(PMI)和确认，掌控材料品质。
台式
同时具有合金测试、合号分析、有害元素分析，土壤分析仪、贵金属分析等功能。
检测样品包括从钠至铀的所有合金、金属加工件、矿物、矿渣、岩石等，形态为固体、液体、粉末等。
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
同时分析元素：性可测几十种元素
测量时间：60秒-200秒
能量分辨率为：（140±5）eV
管压：5KV-50KV
管流：50uA-1000uA
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
样品腔体积：Φ320mm×100mm
重量：65Kg
